Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

ČSN EN 60749-38 (358799)

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 38: Metoda zkoušení četnosti občasných chyb polovodičových součástek s pamětí. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).

NORMA vydána dne 1.10.2008

Jazyk
Provedení	Tištěné - 223.00 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	223.00 Kč bez DPH
223.00 Kč

Informace o normě:

Označení normy: ČSN EN 60749-38
Třídící znak: 358799
Katalogové číslo: 81989
Datum vydání normy: 1.10.2008
Kód zboží: NS-158243
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Česká technická norma
Kategorie: Technické normy ČSN

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Kategorie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Anotace textu normy ČSN EN 60749-38 (358799):

Tato část normy popisuje postup měření výskytu občasných chyb polovodičových součástek s pamětí, které jsou vystaveny částicím s vysokou energií, jako je alfa záření. Jsou popsány dvě zkoušky; zrychlená zkouška používá zdroj záření alfa a (neurychlovaná) zkouška systému v reálném čase, kde libovolné chyby jsou generovány za podmínek přirozeného výskytu záření, což může být alfa záření a jiná záření, například neutronová. Pro úplné popsání výskytu občasných chyb integrovaných obvodů s pamětí musí být součástka zkoušena pro široké spektrum částic s vysokých energií a tepelných neutronů a musí se použít další zkušební metody. Tato zkušební metoda může být použita pro libovolný typ integrovaného obvodu s pamětí.