Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 38: Metoda zkoušení četnosti občasných chyb polovodičových součástek s pamětí. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
NORMA vydána dne 1.10.2008
Designation standards: ČSN EN 60749-38
Classification mark: 358799
Catalog number: 81989
Publication date standards: 1.10.2008
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technické normy ČSN
Tato část normy popisuje postup měření výskytu občasných chyb polovodičových součástek s pamětí, které jsou vystaveny částicím s vysokou energií, jako je alfa záření. Jsou popsány dvě zkoušky; zrychlená zkouška používá zdroj záření alfa a (neurychlovaná) zkouška systému v reálném čase, kde libovolné chyby jsou generovány za podmínek přirozeného výskytu záření, což může být alfa záření a jiná záření, například neutronová. Pro úplné popsání výskytu občasných chyb integrovaných obvodů s pamětí musí být součástka zkoušena pro široké spektrum částic s vysokých energií a tepelných neutronů a musí se použít další zkušební metody. Tato zkušební metoda může být použita pro libovolný typ integrovaného obvodu s pamětí.