Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

Doplňující informace

ASTM F980-92

Guide for The Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

Automaticky přeložený název:

Průvodce pro měření Rapid Žíhání Neutron vyvolané objemového škodu v Silicon polovodičových součástek

NORMA vydána dne 1.1.1992

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 2 005.90 Kč Tištěné - 2 005.90 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	2005.90 Kč bez DPH
2 005.90 Kč

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F980-92
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1992
Kód zboží: NS-57153
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Anotace textu normy ASTM F980-92 :

Keywords:

Annealing, Defects-semiconductors, Destructive testing-semiconductors, Displacement damage, Electrical conductors-semiconductors, Electronic hardness, Hardness tests-radiation (of semiconductors), Integrated circuits, Neutron radiation, Pulsed neutron-radiation source, Radiation exposure-electronic components/devices, Radiation-hardness testing, Short term damage, Vulnerability, rapid annealing of neutron-induced displacement damage in semiconductor, devices, guide,, Rapid annealing effects

Doplňující informace

1. Scope

1.1 This guide defines the requirements and procedures for testing silicon discrete semiconductor devices and integrated circuits for rapid-annealing effects from displacement damage resulting from neutron radiation. This test will produce degradation of the electrical properties of the irradiated devices and should be considered a destructive test. Rapid annealing of displacement damage is usually associated with bipolar technologies.

1.2 This standard does not purport to address all of the safety problems, if any, associated with its use. It is the responsibility of whoever uses this standard to consult and establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. Specific hazard information is given in 4.2.7.

2. Referenced Documents

E666-21	Standard Practice for Calculating Absorbed Dose From Gamma or X Radiation
E1855-20	Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
E722-19	Standard Practice for Characterizing Neutron Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation-Hardness Testing of Electronics
E1894-18	Standard Guide for Selecting Dosimetry Systems for Application in Pulsed X-Ray Sources
E721-22	Standard Guide for Determining Neutron Energy Spectra from Neutron Sensors for Radiation-Hardness Testing of Electronics
F1032-91	Guide for Measuring Time-Dependant Total-Dose Effects in Semiconductor Devices Exposed to Pulsed Ionizing Radiation (Withdrawn 1994)
E720-23	Standard Guide for Selection and Use of Neutron Sensors for Determining Neutron Spectra Employed in Radiation-Hardness Testing of Electronics
E1854-19	Standard Practice for Ensuring Test Consistency in Neutron-Induced Displacement Damage of Electronic Parts
E265-15(2020)	Standard Test Method for Measuring Reaction Rates and Fast-Neutron Fluences by Radioactivation of Sulfur-32
E264-19	Standard Test Method for Measuring Fast-Neutron Reaction Rates by Radioactivation of Nickel

Doporučujeme:

nody.cz - Splňte si svůj sen o vlatsním e-shopu

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.