Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F1032-91
Guide for Measuring Time-Dependant Total-Dose Effects in Semiconductor Devices Exposed to Pulsed Ionizing Radiation (Withdrawn 1994)
Automaticky přeložený název:
Průvodce pro měření Time- závislá Celkem - Dose efekty v polovodičových součástek vystavených pulzní ionizujícího záření (Withdrawn 1994 )
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F1032-91
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-48877
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F1032-91 :
Keywords:
ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
