NEPLATNÁ ASTM F388-84 1.1.1900 náhled

ASTM F388-84

Method for Measurement of Oxide Thickness on Silicon Wafers and Metallization Thickness by Multiple-Beam Interference (Tolansky Method) (Withdrawn 1993)

Automaticky přeložený název:

Metoda měření oxidu tloušťky na křemíkových plátků a pokovování tloušťky pomocí Multiple - Beam rušení ( Tolansky metoda) (Withdrawn 1993 )




Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2 020.00 bez DPH
2 020.00

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F388-84
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-55128
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F388-84 :

Keywords:

ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:

Aktualizace technických norem

Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.