Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

ASTM F388-84

Method for Measurement of Oxide Thickness on Silicon Wafers and Metallization Thickness by Multiple-Beam Interference (Tolansky Method) (Withdrawn 1993)

Automaticky přeložený název:

Metoda měření oxidu tloušťky na křemíkových plátků a pokovování tloušťky pomocí Multiple - Beam rušení ( Tolansky metoda) (Withdrawn 1993 )

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 1 923.90 Kč Tištěné - 1 923.90 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	1 923.90 Kč bez DPH
1 923.90 Kč

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F388-84
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-55128
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Anotace textu normy ASTM F388-84 :

Keywords:

ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:

EviNor - Řízení a aktualizace českých norem

Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.