Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
Automaticky přeložený název:
Standardní Průvodce pro přechodné radiační Rozrušený prahu digitálních integrovaných obvodů
NORMA vydána dne 10.12.2002
Označení normy: ASTM F1262M-95(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2002
Kód zboží: NS-49670
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)
Significance and Use | ||||||||||
Digital logic circuits are used in system applications where they are exposed to pulses of radiation. It is important to know the minimum radiation level at which transient failures can be induced, since this affects system operation. |
||||||||||
1. Scope | ||||||||||
1.1 This guide is to assist experimenters in measuring the transient radiation upset threshold of silicon digital integrated circuits exposed to pulses of ionizing radiation greater than 103 Gy (Si)/s. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||||||||
2. Referenced Documents | ||||||||||
|
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 03.05.2024 (Počet položek: 2 896 946)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.