Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F1262M-95
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
Automaticky přeložený název:
Standardní Průvodce pro přechodné radiační Rozrušený prahu digitálních integrovaných obvodů
NORMA vydána dne 10.11.1995
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F1262M-95
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.11.1995
Kód zboží: NS-49672
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F1262M-95 :
Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold
Doplňující informace
| 1. Scope | ||||||||||
|
1.1 This guide is to assist experimenters in measuring the transient radiation upset threshold of silicon digital integrated circuits exposed to pulses of ionizing radiation greater than 103 Gy (Si)/s. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||||
|
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
