Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM E1127-91(1997)
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
Automaticky přeložený název:
Standardní Průvodce pro hloubkové profilování v Auger elektronové spektroskopie
NORMA vydána dne 10.9.1997
Informace o normě:
Označení normy: ASTM E1127-91(1997)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.9.1997
Kód zboží: NS-40555
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM E1127-91(1997) :
Keywords:
Angle lapping, Argon atmospheres, Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties, Spectroscopy-auger electron (AES), Sputter depth profiling data, Surface analysis-spectrochemical analysis, Xenon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)
Doplňující informace
| 1. Scope | ||||||||||||||||||||
|
1.1 This guide covers procedures used for depth profiling in Auger electron spectroscopy. 1.2 Guidelines are given for depth profiling by the following: Section Ion Sputtering 6 Angle Lapping and Cross-Sectioning 7 Mechanical Cratering 8 Nondestructive Depth Profiling 91.3 This standard does not purport to address all of the safety problems, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||||||||||||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||||||||||||||
|
Doporučujeme:
