ASTM E1127-08(2015)

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Automaticky přeložený název:

Standardní Průvodce pro hloubkové profilování v Auger elektronové spektroskopie



NORMA vydána dne 1.6.2015


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 436.30 bez DPH
1 436.30

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1127-08(2015)
Datum vydání normy: 1.6.2015
Kód zboží: NS-591391
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Kategorie - podobné normy:

Fyzikálně chemické analytické metody

Anotace textu normy ASTM E1127-08(2015) :

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.