ASTM E1127-08

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Automaticky přeložený název:

Standardní Průvodce pro hloubkové profilování v Auger elektronové spektroskopie



NORMA vydána dne 1.10.2008


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 932.20 bez DPH
1 932.20

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1127-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.10.2008
Kód zboží: NS-40554
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1127-08 :

Keywords:

angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films, Surface analysis--spectrochemical analysis, Angle lapping and staining technique, Argon atmospheres, Auger electron spectroscopy (AES), Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.