Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Španělské národní normy UNE vydává společnost AENOR, která se věnuje rozvoji národní standardizace a certifikace ve všech průmyslových sektorech i v sektorech služeb. Jejím cílem je přispívat ke zlepšování kvality a konkurenceschopnosti společností a k ochraně životního prostředí.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 39: Měření difúzního koeficientu vlhkosti a rozpustnosti vody v organických materiálech používaných pro polovodičové součástky.)
NEPLATNÁ vydána dne 4.1.2025
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 4: Vlhké teplo konstantní, velmi zrychlená zkouška namáháním (HAST).)
NEPLATNÁ vydána dne 30.5.2003
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2017.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 43: Pokyny pro kvalifikační plány spolehlivosti integrovaných obvodů (IC).)
NEPLATNÁ vydána dne 10.10.2024
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci.)
NEPLATNÁ vydána dne 21.11.2003
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 6: Skladování při vysoké teplotě.)
NEPLATNÁ vydána dne 30.5.2003
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 7: Měření obsahu vnitřní vlhkosti a analýza dalších zbytkových plynů.)
NEPLATNÁ vydána dne 30.5.2003
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 9: Trvanlivost značení.)
NEPLATNÁ vydána dne 30.5.2003
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
(Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos.)
NEPLATNÁ vydána dne 15.11.2000
Vybrané provedení:APARATOS DE PRODUCCION INSTANTANEA DE AGUA CALIENTE PARA USOS SANITARIOS QUE UTILIZAN COMBUSTIBLES GASEOSOS
NEPLATNÁ vydána dne 15.9.1976
Vybrané provedení:
GAS BURNING APPLIANCES FOR INSTANTANEOUS PRODUCTION OF HOT WATER FOR DOMESTIC USE.
(APARATOS DE PRODUCCION INSTANTANEA DE AGUA CALIENTE PARA USOS SANITARIOS QUE UTILIZAN COMBUSTIBLES GASEOSOS)
NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1990
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 17.05.2026 (Počet položek: 2 278 942)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.