Nepremenné rezistory na používanie v elektronických zariadeniach. Časť 4: Čiastková špecifikácia. Výkonové rezistory na montáž do priechodných otvorov na doskách s plošnými spojmi (THT) alebo na montáž na šasi (Norma na priame používanie ako STN).

Norma vydána dne 1.7.2026

Nepremenné rezistory na používanie v elektronických zariadeniach. Časť 4: Čiastková špecifikácia. Výkonové rezistory na montáž do priechodných otvorov na doskách s plošnými spojmi (THT) alebo na montáž na šasi. Zmena A11 (Norma na priame používanie ako STN).

Změna vydána dne 1.7.2026

Nepremenné rezistory na používanie v elektronických zariadeniach. Časť 8: Rámcová špecifikácia. Nepremenné rezistory na povrchovú montáž (Norma na priame používanie ako STN).

Norma vydána dne 1.7.2026

Nepremenné rezistory na používanie v elektronických zariadeniach. Časť 8: Rámcová špecifikácia. Nepremenné rezistory na povrchovú montáž. Zmena A11 (Norma na priame používanie ako STN).

Změna vydána dne 1.7.2026

Piezoelektrické snímače. Časť 3: Fyzikálne snímače (Norma na priame používanie ako STN).

Norma vydána dne 1.7.2026

Kryštály lítium-tantalátu a lítium-niobátu na použitie v zariadeniach s povrchovými akustickými vlnami (SAW). Špecifikácie a metódy merania (Norma na priame používanie ako STN).

Norma vydána dne 1.7.2026

Tepelná normalizácia polovodičových puzdier. Časť 6: Model tepelného odporu a tepelnej kapacity na predikciu prechodnej teploty v prechode a v bodoch merania (Norma na priame používanie ako STN).

Norma vydána dne 1.7.2026

Integrované obvody. Meranie elektromagnetickej odolnosti. Časť 8: Meranie odolnosti proti vyžarovaniu. Metóda páskového vedenia IC (Norma na priame používanie ako STN).

Norma vydána dne 1.7.2026

Dynamické moduly. Kmeňová špecifikácia. Zmena A1 (Norma na priame používanie ako STN).

Změna vydána dne 1.7.2026

Optické zosilňovače. Skúšobné metódy. Časť 1-2: Parametre výkonu a zosilnenia. Metóda elektrickým spektrálnym analyzátorom (Norma na priame používanie ako STN).

Norma vydána dne 1.7.2026