Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
VDE - Německé sdružení pro elektrotechnické, elektronické a informační technologie bylo založeno již v roce 1893. Zasazuje se o moderní vzdělávání odborníků a vysokou akceptaci techniky u obyvatelstva. Podporuje rozvoj elektrotechniky, elektroniky a informačních technologií a jejich souvisejících technologií.
Hlavním těžištěm činnosti sdružení je bezpečnost v elektrotechnice, vypracování uznávaných pravidel techniky jako národní a mezinárodní normy, zkoušení a certifikace přístrojů a systémů.
Americká varianta norem VDE je označována jako UL norma (Underwriters Laboratories).
VDE 0884-17. Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation.
(Polovodičové součástky - Část 17: Magnetický a kapacitní vazební člen pro základní a zesílenou izolaci..)
Norma vydána dne 1.10.2021
Vybrané provedení:VDE 0884-5. Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
Norma vydána dne 1.10.2021
Vybrané provedení:VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.
Norma vydána dne 1.11.2019
Vybrané provedení:VDE 0884-749-21. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability.
Norma vydána dne 1.4.2025
Vybrané provedení:VDE 0884-749-24. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.
Norma vydána dne 1.4.2025
Vybrané provedení:VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
Norma vydána dne 1.10.2018
Vybrané provedení:VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
Norma vydána dne 1.10.2025
Vybrané provedení:VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
Norma vydána dne 1.12.2024
Vybrané provedení:VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
Norma vydána dne 1.9.2024
Vybrané provedení:VDE 0884-749-7. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
Norma vydána dne 1.4.2025
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 08.05.2026 (Počet položek: 2 276 678)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.