Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Německé - Ostatní - strana 500" dle:    


DIN EN IEC 60747-5-5:2021-10

VDE 0884-5. Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.

Norma vydána dne 1.10.2021

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (3637.60 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
3 637.60


do 7 pracovních dnů
DIN EN IEC 60749-17:2019-11

VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.

Norma vydána dne 1.11.2019

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (1063.80 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
1 063.80


do 7 pracovních dnů
E DIN EN IEC 60749-21:2025-04

VDE 0884-749-21. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability.

Norma vydána dne 1.4.2025

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (689.70 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
689.70


do 7 pracovních dnů
E DIN EN IEC 60749-24:2025-04

VDE 0884-749-24. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.

Norma vydána dne 1.4.2025

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (504.80 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
504.80


do 7 pracovních dnů
DIN EN IEC 60749-26:2018-10

VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).

Norma vydána dne 1.10.2018

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (3367.40 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
3 367.40


do 7 pracovních dnů
E DIN EN IEC 60749-26:2025-10

VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).

Norma vydána dne 1.10.2025

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (1488.90 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
1 488.90


do 7 pracovních dnů
DIN EN IEC 60749-28:2024-12

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.

Norma vydána dne 1.12.2024

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (3073.00 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
3 073.00


do 7 pracovních dnů
DIN EN IEC 60749-5:2024-09

VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

Norma vydána dne 1.9.2024

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (1274.40 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
1 274.40


do 7 pracovních dnů
E DIN EN IEC 60749-7:2025-04

VDE 0884-749-7. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.

Norma vydána dne 1.4.2025

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (504.80 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
504.80


do 7 pracovních dnů
DIN EN 60754-1:2021-02

VDE 0482-754-1. Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content.
(Zkouška plynů vznikajících při hoření materiálů z kabelů - Část 1: Stanovení obsahu halogenovodíku.)

Norma vydána dne 1.2.2021

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (1932.70 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
1 932.70


do 7 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 4990 až 5000 z celkem 29399 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.