DIN - Německé národní normy - strana 16622

Normy DIN - Německé národní normy - strana 16622

DIN - je chráněné označení německých národních technických norem.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy DIN - strana 16622" dle:    


E DIN IEC 60749-23:2002-10 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 178.30


do 7 pracovních dnů
DIN EN 60749-23:2004-10 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2004

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 528.00


SKLADEM
E DIN EN 60749-23/A1:2009-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2009

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 009.00


do 7 pracovních dnů
E DIN IEC 60749-24:2002-11 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance; Unbiased HAST.

NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 178.30


do 7 pracovních dnů
E DIN EN 60749-25:2002-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Rapid change of temperature (air, air).

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 528.00


do 7 pracovních dnů
E DIN EN 60749-26:2002-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Human body model (HBM).

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 528.00


do 7 pracovních dnů
E DIN EN 60749-26:2005-05 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2005

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 864.40


do 7 pracovních dnů
DIN EN 60749-26:2007-01 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM). .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2007

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 042.60


SKLADEM
E DIN IEC 60749-26:2011-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge sensitivity testing - Human body model (HBM) - Component Level.

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 954.50


do 7 pracovních dnů
DIN EN 60749-26:2014-09 NEPLATNÁ

VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM). .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2014

Vybrané provedení:
Německy -
Tištěné (2902.30 CZK)


Zobrazit všechny technické informace
2 902.30


do 7 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 166210 až 166220 z celkem 199119 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.