Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Characteristics of hollow pressurised and unpressurised ceramic and glass insulators for use in electrical equipment with rated voltages greater than 1000 V
Norma vydána dne 14.5.2008
Vybrané provedení:
Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution
(Instrumentation nucleaire - Scintillateurs montes - Methodes d´essai de lumiere sortante et de resolution intrinseque)
Norma vydána dne 3.2.2021
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) - Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET)
Norma vydána dne 15.7.2020
Vybrané provedení:
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
(Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET))
Norma vydána dne 18.7.2006
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermetalliques)
Norma vydána dne 29.9.2010
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille)
Norma vydána dne 29.3.2007
Vybrané provedení:
Video systems (625/50 progressive) - Video and accompanied data using the vertical blanking interval - Analogue interface
(Systemes video (625/50 progressif) - Donnees video et donnees associees utilisant l´intervalle de suppression de trame - Interface analogique)
Norma vydána dne 26.2.2004
Vybrané provedení:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 1: General
(Interface de commande commune des produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 1: Generalites)
Norma vydána dne 30.8.2007
Vybrané provedení:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 2: Audio
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseau - Partie 2: Audio)
Norma vydána dne 8.9.2008
Vybrané provedení:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 3: Video
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 3: Video)
Norma vydána dne 5.6.2015
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 20.06.2026 (Počet položek: 2 283 412)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.