Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution
(Instrumentation nucleaire - Scintillateurs montes - Methodes d´essai de lumiere sortante et de resolution intrinseque)
Norma vydána dne 3.2.2021
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) - Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET)
Norma vydána dne 15.7.2020
Vybrané provedení:
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
(Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET))
Norma vydána dne 18.7.2006
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermetalliques)
Norma vydána dne 29.9.2010
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille)
Norma vydána dne 29.3.2007
Vybrané provedení:
Video systems (625/50 progressive) - Video and accompanied data using the vertical blanking interval - Analogue interface
(Systemes video (625/50 progressif) - Donnees video et donnees associees utilisant l´intervalle de suppression de trame - Interface analogique)
Norma vydána dne 26.2.2004
Vybrané provedení:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 1: General
(Interface de commande commune des produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 1: Generalites)
Norma vydána dne 30.8.2007
Vybrané provedení:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 2: Audio
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseau - Partie 2: Audio)
Norma vydána dne 8.9.2008
Vybrané provedení:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 3: Video
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 3: Video)
Norma vydána dne 5.6.2015
Vybrané provedení:
Common control interface for networked digital audio and video products - Part 5-1: Transmission over networks - General
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseau - Partie 5-1: Transmission sur des reseaux - Generalites)
Norma vydána dne 9.7.2014
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 05.07.2025 (Počet položek: 2 207 347)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.