Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Electric energy supply networks - General aspects and methods for the maintenance of installations and equipment
Norma vydána dne 15.2.2019
Vybrané provedení:Adjusted volume calculation for refrigerating appliances
Norma vydána dne 22.5.2017
Vybrané provedení:Graphical symbols for diagrams - Guidance on design for standardization in IEC 60617
Norma vydána dne 23.1.2018
Vybrané provedení:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydána dne 15.9.2017
Vybrané provedení:Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Změna vydána dne 3.6.2022
Vybrané provedení:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydána dne 3.6.2022
Vybrané provedení:Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
Norma vydána dne 22.3.2017
Vybrané provedení:
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Norma vydána dne 24.6.2020
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Norma vydána dne 30.1.2019
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Norma vydána dne 30.1.2019
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 22.12.2024 (Počet položek: 2 217 000)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.