IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1035

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1035

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy IEC - strana 1035" dle:    


IEC/TR 63065-ed.1.1+Amd.1-CSV

Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station

Norma vydána dne 3.6.2022

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
12 466.10


SKLADEM
IEC/TS 63066-ed.1.0

Low-voltage docking connectors for removable energy storage units

Norma vydána dne 22.3.2017

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 742.50


SKLADEM
IEC 63067-ed.1.0

Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)

Norma vydána dne 24.6.2020

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 856.90


SKLADEM
IEC 63068-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects

Norma vydána dne 30.1.2019

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 856.90


SKLADEM
IEC 63068-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection

Norma vydána dne 30.1.2019

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 856.90


SKLADEM
IEC 63068-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)

Norma vydána dne 13.7.2020

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 152.10


SKLADEM
IEC 63068-4-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence

Norma vydána dne 27.7.2022

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 856.90


SKLADEM
IEC/TR 63069-ed.1.0

Industrial-process measurement, control and automation - Framework for functional safety and security

Norma vydána dne 20.5.2019

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 152.10


SKLADEM
IEC/TS 63070-ed.1.0

Ultrasonics - Field characterization - Infrared imaging techniques for determining temperature elevation in tissue-mimicking material and at the radiation surface of a transducer in still air

Norma vydána dne 15.2.2019

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 152.10


SKLADEM
IEC/TR 63071-ed.1.0

Power supplying scheme for wearable system and equipment

Norma vydána dne 14.12.2016

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 590.40


SKLADEM

Zobrazen záznam od 10340 až 10350 z celkem 10859 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.