Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Adjusted volume calculation for refrigerating appliances
Norma vydána dne 22.5.2017
Vybrané provedení:Graphical symbols for diagrams - Guidance on design for standardization in IEC 60617
Norma vydána dne 23.1.2018
Vybrané provedení:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydána dne 15.9.2017
Vybrané provedení:Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Změna vydána dne 3.6.2022
Vybrané provedení:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Norma vydána dne 3.6.2022
Vybrané provedení:Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
Norma vydána dne 22.3.2017
Vybrané provedení:
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Norma vydána dne 24.6.2020
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Norma vydána dne 30.1.2019
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Norma vydána dne 30.1.2019
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)
Norma vydána dne 13.7.2020
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 30.08.2024 (Počet položek: 2 345 304)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.