Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures
(Electroacoustique - Instruments pour la mesure de l´intensite acoustique - Exigences concernant les compatibilites electromagnetiques et electrostatiques et procedures d´essai)

Norma vydána dne 10.5.2004

Amendment 1 - Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures

Změna vydána dne 8.3.2017

Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures

Norma vydána dne 8.3.2017

Characteristics of hollow pressurised and unpressurised ceramic and glass insulators for use in electrical equipment with rated voltages greater than 1000 V

Norma vydána dne 14.5.2008

Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution
(Instrumentation nucleaire - Scintillateurs montes - Methodes d´essai de lumiere sortante et de resolution intrinseque)

Norma vydána dne 3.2.2021

Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) - Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET)

Norma vydána dne 15.7.2020

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
(Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET))

Norma vydána dne 18.7.2006

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermetalliques)

Norma vydána dne 29.9.2010

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille)

Norma vydána dne 29.3.2007

Video systems (625/50 progressive) - Video and accompanied data using the vertical blanking interval - Analogue interface
(Systemes video (625/50 progressif) - Donnees video et donnees associees utilisant l´intervalle de suppression de trame - Interface analogique)

Norma vydána dne 26.2.2004