Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Part 18-4: Semiconductor bio sensors - Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
Norma vydána dne 16.3.2023
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Part 18-5: Semiconductor bio sensors - Evaluation method for light responsivity characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules by incident angle of light
Norma vydána dne 16.3.2023
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Part 19-1: Smart sensors - Control scheme of smart sensors
Norma vydána dne 22.11.2019
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Part 19-2: Smart sensors - Indication of specifications of sensors and power supplies to drive smart sensors for low power operation
Norma vydána dne 21.5.2021
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes
Norma vydána dne 29.9.2025
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 3: Dispositifs discrets: Diodes de signal, diodes de commutation et diodes regulatrices)
Norma vydána dne 9.7.2013
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 4: Diodes et transistors hyperfrequences)
Norma vydána dne 23.8.2007
Vybrané provedení:
Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 4: Diodes et transistors hyperfrequences)
Změna vydána dne 30.1.2017
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 4: Diodes et transistors hyperfrequences)
Norma vydána dne 30.1.2017
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point
Norma vydána dne 11.12.2019
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 09.08.2026 (Počet položek: 2 292 444)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.