Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "IEC - Všechny - strana 1110" dle:    


IEC 63270-1-ed.1.0

Predictive maintenance of industrial automation equipment and systems - Part 1: General requirements
(Maintenance predictive des equipements et systemes d´automatisation industrielle - Partie 1: Exigences generales)

Norma vydána dne 17.4.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
9 283.30


SKLADEM
IEC 63272-ed.1.0

Nuclear facilities - Electrical power systems - AC interruptible power supply systems
(Installations nucleaires - Systemes d´alimentation electrique - Systemes d´alimentation electrique interruptibles en courant alternatif)

Norma vydána dne 7.8.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
10 542.00


SKLADEM
IEC/SRD 63273-1-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 1: High-level analysis

Norma vydána dne 25.8.2023

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
11 958.10


SKLADEM
IEC/SRD 63273-2-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 2: Use case analysis

Norma vydána dne 3.4.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
13 531.60


SKLADEM
IEC/TR 63274-ed.1.0

Power consumption of high dynamic range television sets

Norma vydána dne 5.3.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
9 283.30


SKLADEM
IEC 63275-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Methode d’essai pour la mesure de la derive de la tension de seuil apres polarisation electrique en temperature)

Norma vydána dne 21.4.2022

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 517.50


SKLADEM
IEC 63275-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 2: Methode d’essai de la degradation bipolaire due au fonctionnement de la diode intrinseque)

Norma vydána dne 11.5.2022

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 258.80


SKLADEM
IEC/TS 63276-ed.1.0

Guidelines for the hosting capacity evaluation of distribution networks for distributed energy resources

Norma vydána dne 17.9.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 608.40


SKLADEM
IEC 63277-3-1-ed.1.0

Binary power generation systems - Part 3-1: Safety requirements - System with less than 500 kW in capacity

Norma vydána dne 20.2.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 608.40


SKLADEM
IEC 63277-ed.1.0

Binary power generation systems with capacity less than 100 kW - Performance test methods

Norma vydána dne 10.11.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 618.90


SKLADEM

Zobrazen záznam od 11090 až 11100 z celkem 11515 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.