JIS - Japonské technické normy - strana 655

Normy JIS - Japonské technické normy - strana 655

Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "JIS - Japonské technické normy - strana 655" dle:    


JIS K0170-7:2019

Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 7: Chromium (VI)

Norma vydána dne 20.3.2019

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS K0170-8:2019

Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 8: Anionic surfactants

Norma vydána dne 20.3.2019

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS K0170-9:2019

Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 9: Cyanide compounds

Norma vydána dne 20.3.2019

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS K0181:2021

Surface chemical analysis -- Total reflection X-ray fluorescence analysis of water

Norma vydána dne 22.11.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS K0182:2023

Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of cantilever normal spring constants

Norma vydána dne 20.4.2023

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS K0183:2024

Surface chemical analysis-Scanning probe microscopy-Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method

Norma vydána dne 21.10.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS K0189:2013

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy

Norma vydána dne 22.7.2013

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS K0190:2010

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

Norma vydána dne 20.4.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS K0199:2023

Guideline for alignment procedure for identical location analysis between different microscopic measuring instruments

Norma vydána dne 20.1.2023

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS K0200:2024

Common format for measurement and analysis data

Norma vydána dne 20.5.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM

Zobrazen záznam od 6540 až 6550 z celkem 11691 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.