Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 23-4: Screening and filtering tests -- Test 23d: Transmission line reflections in the time domain
Norma vydána dne 25.3.2006
Vybrané provedení:Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 3-1: Insulation tests -- Test 3a: Insulation resistance
Norma vydána dne 20.3.2005
Vybrané provedení:Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-1: Voltage stress tests -- Test 4a: Voltage proof
Norma vydána dne 20.12.2005
Vybrané provedení:Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-2: Voltage stress tests -- Test 4b: Partial discharge
Norma vydána dne 20.3.2005
Vybrané provedení:Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-3: Voltage stress tests -- Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels
Norma vydána dne 20.3.2005
Vybrané provedení:Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-1: Current-carrying capacity tests -- Test 5a: Temperature rise
Norma vydána dne 20.3.2005
Vybrané provedení:Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-2: Current-carrying capacity tests -- Test 5b: Current-temperature derating
Norma vydána dne 20.3.2005
Vybrané provedení:Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-1: Dynamic stress tests -- Test 6a: Acceleration, steady state
Norma vydána dne 20.3.2005
Vybrané provedení:Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-2: Dynamic stress tests -- Test 6b: Bump
Norma vydána dne 20.3.2005
Vybrané provedení:Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-3: Dynamic stress tests -- Test 6c: Shock
Norma vydána dne 20.3.2005
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 17.04.2026 (Počet položek: 2 274 270)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.