Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy GB - Čínské národní normy - strana 7454
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
GB/T 6616-1995
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage
NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 6616-2009
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge
NEPLATNÁ vydána dne 30.10.2009
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 6617-1995
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe
NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 6618-1995
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices
NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 6619-1995
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Test methods for bow of silicon slices
NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 6620-1995
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning
NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 6621-1995
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Test methods for surface flatness of silicon polished slices
NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 6624-1995
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 6625-1986
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Test methods for nitrogen content of nitrogen-doped getter
NEPLATNÁ vydána dne 25.7.1986
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 6626.1-1986
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Test methods for the characteristics of getter-mercury dispenser—Test methods for mercury yield characteristic of getter-mercury dispenser
NEPLATNÁ vydána dne 26.7.1986
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
