Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Methods for chemical analysis of aluminium hydroxide--The ortho-phenanthroline photometric method for the determination of ferric oxide content
NEPLATNÁ vydána dne 24.7.1986
Vybrané provedení:Chemical analysis methods of aluminium hydroxide—Determination of ferric oxide content—Orthophenanthroline photometric method
NEPLATNÁ vydána dne 3.11.2003
Vybrané provedení:Methods for chemical analysis of aluminium hydroxide--The flame photometric method for the determination of sodium oxide content
NEPLATNÁ vydána dne 24.7.1986
Vybrané provedení:Chemical analysis methods of aluminium hydroxide—Determination of sodium oxide content
NEPLATNÁ vydána dne 3.11.2003
Vybrané provedení:Terminology for titanium and titanium alloy
NEPLATNÁ vydána dne 24.7.1986
Vybrané provedení:Titanium alloy TA7 sheet and plate for important applications
NEPLATNÁ vydána dne 24.7.1986
Vybrané provedení:Titanium alloy TC4 sheet and plate for important applications
NEPLATNÁ vydána dne 24.7.1986
Vybrané provedení:Titanium and titanium alloy castings
NEPLATNÁ vydána dne 9.5.1994
Vybrané provedení:Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage
NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995
Vybrané provedení:Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge
NEPLATNÁ vydána dne 30.10.2009
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 11.07.2025 (Počet položek: 2 208 012)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.