GB - Čínské národní normy - strana 6342

Normy GB - Čínské národní normy - strana 6342

Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy GB - strana 6342" dle:    


GB/T 14844-1993 NEPLATNÁ

Designations of semiconductor materials

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 944.10


do 3 pracovních dnů
GB/T 14845-1993 NEPLATNÁ

Titanium sheet for plate heat exchangers

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 948.50


do 2 pracovních dnů
GB/T 14846-1993 NEPLATNÁ

Wrought aluminium and aluminium alloy extruded profiles—Tolerances on dimensions and shape

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
18 890.90


do 5 pracovních dnů
GB/T 14846-2008 NEPLATNÁ

Aluminium and aluminium alloy extruded profiles—Tolerances on dimensions and form

NEPLATNÁ vydána dne 31.3.2008

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
21 877.60


do 6 pracovních dnů
GB/T 14847-1993 NEPLATNÁ

Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
7 939.70


do 3 pracovních dnů
GB/T 14847-2010 NEPLATNÁ

Test mothod for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 446.30


do 3 pracovních dnů
GB/T 14848-1993 NEPLATNÁ

Quality standard for ground water

NEPLATNÁ vydána dne 30.12.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 742.20


SKLADEM
GB/T 14849.1-1993 NEPLATNÁ

Silicon metal—Determination of iron content—1,10-Phenanthroline spectrophotometric method

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 953.00


do 2 pracovních dnů
GB/T 14849.1-2007 NEPLATNÁ

Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 1:Determination of iron content—1,10-Phenanthrolion spectrophotometric method

NEPLATNÁ vydána dne 25.10.2007

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 240.00


SKLADEM
GB/T 14849.2-1993 NEPLATNÁ

Silicon metal—Determination of aluminum content—Chrome azurol S spectrophotometric method

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 953.00


do 2 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 63410 až 63420 z celkem 94224 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.