Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy GB - Čínské národní normy - strana 362
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
GB/T 1413-2023
Zobrazit všechny technické informace
Series 1 freight containers—Classification,dimensions and ratings
Norma vydána dne 17.3.2023
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 14139-2019
Zobrazit všechny technické informace
Silicon epitaxial wafers
Norma vydána dne 4.6.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 1414-2013
Zobrazit všechny technické informace
General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems
Norma vydána dne 9.6.2013
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 14140-2025
Zobrazit všechny technické informace
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
Norma vydána dne 1.8.2025
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 14141-2009
Zobrazit všechny technické informace
Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
Norma vydána dne 30.10.2009
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 14142-2017
Zobrazit všechny technické informace
Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique
Norma vydána dne 29.9.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 14144-2009
Zobrazit všechny technické informace
Testing method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
Norma vydána dne 30.10.2009
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 14146-2021
Zobrazit všechny technické informace
Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
Norma vydána dne 21.5.2021
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
GB/T 14148-2011
Zobrazit všechny technické informace
Glass blank of ophthalmic lenses
Norma vydána dne 16.6.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
