Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
General principles of measuring methods of display drivers for semiconductor interface integrated circuits
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986
Vybrané provedení:-
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1984
Vybrané provedení:-
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1985
Vybrané provedení:Slotted countersunk flat head screws(common head style)
NEPLATNÁ vydána dne 26.9.2000
Vybrané provedení:General principles of measuring methods of audio power amplifiers for semicomductor audio integrated circuits
NEPLATNÁ vydána dne 28.8.1986
Vybrané provedení:Reference methods of measurement for semiconductor devices
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986
Vybrané provedení:Detail specification for electronic component--Glass passivated high voltage rectifier silicon stack for types 2CL61, 2CL62, 2CL63, 2CL64, 2CL65, 2CL66, 2CL67, 2CL68
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986
Vybrané provedení:Standard method for conducting drop-weight test to determine nilductility transition temperature of ferritic steels
NEPLATNÁ vydána dne 28.8.1986
Vybrané provedení:Test method for drop-weight test to determine nil-ductility transition temperature of ferritic steels
NEPLATNÁ vydána dne 13.5.2008
Vybrané provedení:Sintered metal bushes determination of radial crushing strength
NEPLATNÁ vydána dne 28.8.1986
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 21.08.2026 (Počet položek: 2 298 377)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.