Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Designation of name and model of structure ceramic materials used in electronic components
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1985
Vybrané provedení:Structure ceramic materials used in electronic components
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1985
Vybrané provedení:Structure ceramic materials used in electronic components
NEPLATNÁ vydána dne 9.9.1996
Vybrané provedení:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for mean coefficient of linear expansion
NEPLATNÁ vydána dne 27.11.1985
Vybrané provedení:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for dielectric loss angle tangent value
NEPLATNÁ vydána dne 27.11.1985
Vybrané provedení:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for chemical durability
NEPLATNÁ vydána dne 27.11.1985
Vybrané provedení:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for liquid permeability
NEPLATNÁ vydána dne 27.11.1985
Vybrané provedení:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Determination of microstructure
NEPLATNÁ vydána dne 27.11.1985
Vybrané provedení:Classification and designation of name and model of ceramic dielectric materials used for capacitors
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1985
Vybrané provedení:Ceramic dielectric materials used for capacitors
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1985
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 02.07.2026 (Počet položek: 2 285 991)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.