Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Non-destructive testing—Test method for frequency scanning eddy current testing
NEPLATNÁ vydána dne 14.10.2017
Vybrané provedení:Non-destructive testing—Terminology—Terms used in industrial computed tomography testing
NEPLATNÁ vydána dne 29.9.2017
Vybrané provedení:Families and products of MOS memory for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1982
Vybrané provedení:Families and products of bipolar memory for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1982
Vybrané provedení:General principles of measuring methods of TTL circuits for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1982
Vybrané provedení:Temperature control facilities of pharmaceutical products cold chain logistics—Specification for performance qualification
NEPLATNÁ vydána dne 14.10.2017
Vybrané provedení:-
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1964
Vybrané provedení:General principles of measuring methods of HTL circuits for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1982
Vybrané provedení:General principles of measuring methods of ECL circuits for semiconductor integrated circuits
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1982
Vybrané provedení:Service specifications for payment of employee basic old-age insurance benefits
NEPLATNÁ vydána dne 14.10.2017
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 03.08.2026 (Počet položek: 2 291 378)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.