GB - Všechny - strana 6122 | NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 14847-1993 NEPLATNÁ

Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (8098.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

8 098.50 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 14848-1993 NEPLATNÁ

Quality standard for ground water

NEPLATNÁ vydána dne 30.12.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (1777.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 777.10 Kč

SKLADEM

GB/T 14849.1-1993 NEPLATNÁ

Silicon metal—Determination of iron content—1,10-Phenanthroline spectrophotometric method

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5052.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 052.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 14849.1-2007 NEPLATNÁ

Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 1:Determination of iron content—1,10-Phenanthrolion spectrophotometric method

NEPLATNÁ vydána dne 25.10.2007

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (2284.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 284.80 Kč

SKLADEM

GB/T 14849.2-1993 NEPLATNÁ

Silicon metal—Determination of aluminum content—Chrome azurol S spectrophotometric method

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5052.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 052.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 14849.3-1993 NEPLATNÁ

Silicon metal—Determination of calcium content

NEPLATNÁ vydána dne 24.12.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6067.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 067.50 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 14849.3-2007 NEPLATNÁ

Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 3:Determination of calcium content

NEPLATNÁ vydána dne 25.10.2007

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (3554.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

3 554.20 Kč

SKLADEM

GB/T 14849.4-2008 NEPLATNÁ

Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method

NEPLATNÁ vydána dne 9.6.2008

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (2284.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 284.80 Kč

SKLADEM

GB/T 14849.5-2010 NEPLATNÁ

Chemical analysis of slion metal—Part 5:Determination of elements content—Analysis using an X-ray fluorescence method

NEPLATNÁ vydána dne 14.1.2011

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6067.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 067.50 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 1485-1979 NEPLATNÁ

Method for chemical analysis of platinumrhodiumalloys

NEPLATNÁ vydána dne 13.2.1979

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Zobrazit všechny technické informace

NA DOTAZ

Není skladem

Zobrazen záznam od 61210 až 61220 z celkem 89808 záznamů.