GB - Všechny - strana 6024 | NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 14138-1993 NEPLATNÁ

Requirements for aerial optical fiber cable systems joined to national public telecommunication network

NEPLATNÁ vydána dne 4.2.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (12962.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

12 962.30 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 14139-1993 NEPLATNÁ

Silicon epitaxial wafers

NEPLATNÁ vydána dne 6.2.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6968.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 968.20 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 14139-2009 NEPLATNÁ

Silicon epitaxial wafers

NEPLATNÁ vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (7967.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

7 967.20 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 1414-1978 NEPLATNÁ

General purpose screw threads for joints on pipe line--Dimensions

NEPLATNÁ vydána dne 15.8.1978

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Zobrazit všechny technické informace

NA DOTAZ

Není skladem

GB/T 1414-2003 NEPLATNÁ

General purpose metric screw threads—The plan for pipe systems

NEPLATNÁ vydána dne 22.5.2003

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4970.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 970.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 14140-2009 NEPLATNÁ

Test method for measuring diameter of semiconductor wafer

NEPLATNÁ vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5719.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 719.40 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 14140.1-1993 NEPLATNÁ

Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Optical projecting method

NEPLATNÁ vydána dne 6.2.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4970.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 970.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 14140.2-1993 NEPLATNÁ

Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Micrometer method

NEPLATNÁ vydána dne 6.2.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4970.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 970.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 14141-1993 NEPLATNÁ

Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array

NEPLATNÁ vydána dne 6.2.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5969.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 969.20 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 14142-1993 NEPLATNÁ

Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques

NEPLATNÁ vydána dne 6.2.1993

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6968.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 968.20 Kč

do 3 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 60230 až 60240 z celkem 90914 záznamů.