Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "GB - Všechny - strana 5511" dle:    


GB/T 15497-2003 NEPLATNÁ

Enterprise standard system—Technical standard system

NEPLATNÁ vydána dne 15.9.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
21 356.40


do 4 pracovních dnů
GB/T 15498-1995 NEPLATNÁ

Enterprise standard system Structure and requirements for adminislratice frameuork Standard and duty frauieuork

NEPLATNÁ vydána dne 6.3.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 15498-2003 NEPLATNÁ

Enterprise standard system—Administrative standard system and duty standard system

NEPLATNÁ vydána dne 15.9.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
22 481.90


do 4 pracovních dnů
GB/T 155-1995 NEPLATNÁ

Defects in logs

NEPLATNÁ vydána dne 8.12.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 155-2006 NEPLATNÁ

Defects in logs

NEPLATNÁ vydána dne 12.7.2006

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 1550-1997 NEPLATNÁ

Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials

NEPLATNÁ vydána dne 3.6.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
11 226.90


do 3 pracovních dnů
GB/T 15500-1995 NEPLATNÁ

Methods of random sampling by utilizing electronic sampler of random number

NEPLATNÁ vydána dne 4.1.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
7 850.40


do 3 pracovních dnů
GB/T 15509-1995 NEPLATNÁ

Series and products for semiconductor integrated circuits—Products of robot series for Color TV

NEPLATNÁ vydána dne 15.3.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 1551-1995 NEPLATNÁ

Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
14 603.40


do 4 pracovních dnů
GB/T 1551-2009 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon

NEPLATNÁ vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
22 481.90


do 4 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 55100 až 55110 z celkem 73770 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.