GB - Všechny - strana 5084 | NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 6609.9-2004

Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina--Determination of cupric oxide content--29-Dimethyl-110 phenanthroline photometric method

Norma vydána dne 5.2.2004

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (3547.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

3 547.30 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 661-2011

Chemical reagent - Ammonium iron(II) sulfate hexahydrate

Norma vydána dne 12.5.2011

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5333.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 333.80 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 6611-2025

Terminology and atlas for titanium and titanium alloys

Norma vydána dne 5.10.2025

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (23453.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

23 453.20 Kč

do 7 pracovních dnů

GB/T 6614-2014

Titanium and titanium alloy castings

Norma vydána dne 3.9.2014

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (3828.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

3 828.10 Kč

SKLADEM

GB/T 6616-2023

Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge

Norma vydána dne 6.8.2023

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6865.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 865.00 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 6617-2009

Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe

Norma vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4823.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 823.40 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 6618-2009

Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices

Norma vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5844.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 844.20 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 6619-2009

Test methods for bow of silicon wafers

Norma vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6609.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 609.80 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 6620-2009

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

Norma vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5844.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 844.20 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 6621-2009

Testing methods for surface flatness of silicon slices

Norma vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (3547.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

3 547.30 Kč

do 3 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 50830 až 50840 z celkem 91717 záznamů.