Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems
Norma vydána dne 9.6.2013
Vybrané provedení:Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
Norma vydána dne 1.8.2025
Vybrané provedení:Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
Norma vydána dne 30.10.2009
Vybrané provedení:Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique
Norma vydána dne 29.9.2017
Vybrané provedení:Testing method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
Norma vydána dne 30.10.2009
Vybrané provedení:Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
Norma vydána dne 21.5.2021
Vybrané provedení:Glass blank of ophthalmic lenses
Norma vydána dne 16.6.2011
Vybrané provedení:Laboratory glassware--Interchangeablespherial ground joints
Norma vydána dne 15.2.1993
Vybrané provedení:Metric threads where pressure-tight joints are made on the threads
Norma vydána dne 30.7.2008
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 13.08.2026 (Počet položek: 2 293 179)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.