Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Nové normy GB - strana 27" dle:    


GB/T 48155-2026

Technical specification for bridge plug setting and cluster perforating operation
K dispozici od: březen 2027

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 48156-2026

Aerospace-nuts, barrel, self-locking, floating, self-aligning, with MJ threads—Dimensions
K dispozici od: prosinec 2026

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 48157-2026

Petroleum and natural gas—General method for low-field nuclear magnetic resonance relaxation analysis
K dispozici od: březen 2027

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 48158-2026

Aerospace-Nuts, reduced hexagonal,thin, with MJ threads—Dimensions
K dispozici od: prosinec 2026

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 48159-2026

AerospaceGeneral specifications for hydraulic power transfer units
K dispozici od: březen 2027

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 48160-2026

Aerospace—Couplings, threaded and sealed, for fluid systems
K dispozici od: březen 2027

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 48161-2026

Natural gas—Determination of trace metallic elements—Inductively coupled plasma mass spectrometry
K dispozici od: březen 2027

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 48162-2026

Rotorcrafts—Flight dynamics—Vocabulary and symbol
K dispozici od: březen 2027

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 48164.1-2026

Semiconductor devices—Reliability test method for silicon carbide metal-oxide semiconductor field effect transistors (SiC MOSFET)—Part 1: Test method for bias temperature instability
K dispozici od: březen 2027

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 48164.2-2026

Semiconductor devices—Reliability test method for silicon carbide metal-oxide semiconductor field effect transistors (SiC MOSFET)—Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
K dispozici od: březen 2027

Norma vydána dne 28.8.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem

Zobrazen záznam od 260 až 270 z celkem 306 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.