Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
K dispozici od: září 2025

Norma vydána dne 30.5.2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
K dispozici od: září 2025

Norma vydána dne 30.5.2025

Semiconductor devices—Stress migration test—Part 1: Copper stress migration test
K dispozici od: září 2025

Norma vydána dne 30.5.2025

Semiconductor devices—Constant current electromigration test
K dispozici od: září 2025

Norma vydána dne 30.5.2025

Test method for printed board—Monitoring of single plated-through hole(PTH) resistance change during temperature cycling
K dispozici od: prosinec 2025

Norma vydána dne 30.5.2025

Design methods for satellite-earth data transmission link of remote sensing satellites
K dispozici od: prosinec 2025

Norma vydána dne 30.5.2025

Visible to short-wave infrared spectral reflectance measurement of crops
K dispozici od: prosinec 2025

Norma vydána dne 30.5.2025

Acoustics—Determination of high-frequency sound power levels emitted by machinery and equipment
K dispozici od: prosinec 2025

Norma vydána dne 30.5.2025

Intelligent level requirements and evaluation methods of industrial instruments
K dispozici od: prosinec 2025

Norma vydána dne 30.5.2025

Internet of things—Crowd-sensing—Technical architecture
K dispozici od: prosinec 2025

Norma vydána dne 30.5.2025