BS - Britské národní normy - strana 8296

Normy BS - Britské národní normy - strana 8296

BSi - Společnost BSI British Standards je národním standardizačním úřadem Spojeného království (NSB) a jako taková byla i první na světě. Zastupuje ekonomické a společenské zájmy Spojeného království ve všech evropských a mezinárodních standardizačních organizacích i v rámci vývoje řešení podnikových informací pro britské organizace všech velikostí a oborů. Společnost BSI British Standards spolupracuje s výrobním průmyslem a průmyslem služeb, s podniky, s vládami i spotřebiteli tak, aby usnadnila tvorbu britských, evropských i mezinárodních norem. Součást organizace BSI Group, společnost BSI British Standards, úzce spolupracuje s vládou Spojeného královtsví, zejména skrze Oddělení pro inovace, univerzity a dovednosti (DIUS).

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy BS - strana 8296" dle:    


BS EN ISO 7500-1:2015 NEPLATNÁ

Metallic materials. Calibration and verification of static uniaxial testing machines. Part 1: Tension/compression testing machines. Calibration and verification of the force-measuring system.
(Kovové materiály - Ověřování statických jednoosých zkušebních strojů - Část 1: Trhací stroje a lisy - Ověřování a kalibrace systému měření síly.)

NEPLATNÁ vydána dne 31.1.2016

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 014.20


SKLADEM
BS EN ISO 7500-2:1999 NEPLATNÁ

Metallic materials. Verification of static uniaxial testing machines. Tension creep testing machines. Verification of the applied load.
(Kovové materiály - Ověřování statických jednoosých zkušebních strojů - Část 2: Trhací stroje pro zkoušky tečení - Ověřování užitého zatížení.)

NEPLATNÁ vydána dne 15.9.1999

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 336.30


SKLADEM
BS 7500:1995 NEPLATNÁ

Specification for marking of recycled paper board.

NEPLATNÁ vydána dne 15.3.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 641.90


SKLADEM
BS QC 750001:1986 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Signal diodes, switching diodes and controlled avalanche diodes.

NEPLATNÁ vydána dne 15.11.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 641.90


SKLADEM
BS QC 750005:1987 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Voltage-regulator diodes and voltage-reference diodes, excluding temperature-compensated precision reference diodes.

NEPLATNÁ vydána dne 15.9.1987

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 641.90


SKLADEM
BS EN ISO/IEC 7501-1:1995 NEPLATNÁ

Identification cards. Machine readable travel documents. Machine readable passport.
(Identifikační karty. Strojově čitelné cestovní doklady. Část 1: Strojově čitelný cestovní pas (ISO/IEC 7501-1: 1993) (Text normy není součástí výtisku).)

NEPLATNÁ vydána dne 15.12.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 641.90


SKLADEM
BS ISO/IEC 7501-1:2005 NEPLATNÁ

Identification cards. Machine readable travel documents. Machine readable passport.
(Identifikační karty - Strojově čitelné cestovní doklady - Část 1: Strojově čitelný cestovní pas.)

NEPLATNÁ vydána dne 16.1.2006

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 641.90


SKLADEM
BS ISO/IEC 7501-3:1997 NEPLATNÁ

Identification cards. Machine readable travel documents. Machine readable official travel documents.
(Identifikační karty - Strojově čitelné cestovní doklady - Část 3: Strojově čitelné služební cestovní doklady (Text normy není součástí výtisku).)

NEPLATNÁ vydána dne 15.8.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 641.90


SKLADEM
BS 7501:1989 NEPLATNÁ

General criteria for the operation of testing laboratories.

NEPLATNÁ vydána dne 31.10.1989

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 641.90


SKLADEM
BS QC 750102:1990 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Ambient-rated bipolar transistors for low and high-frequency amplification.

NEPLATNÁ vydána dne 15.2.1990

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 336.30


SKLADEM

Zobrazen záznam od 82950 až 82960 z celkem 87167 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.