Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BSi - Společnost BSI British Standards je národním standardizačním úřadem Spojeného království (NSB) a jako taková byla i první na světě. Zastupuje ekonomické a společenské zájmy Spojeného království ve všech evropských a mezinárodních standardizačních organizacích i v rámci vývoje řešení podnikových informací pro britské organizace všech velikostí a oborů. Společnost BSI British Standards spolupracuje s výrobním průmyslem a průmyslem služeb, s podniky, s vládami i spotřebiteli tak, aby usnadnila tvorbu britských, evropských i mezinárodních norem. Součást organizace BSI Group, společnost BSI British Standards, úzce spolupracuje s vládou Spojeného královtsví, zejména skrze Oddělení pro inovace, univerzity a dovednosti (DIUS).
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci. )
NEPLATNÁ vydána dne 18.6.2003
Vybrané provedení:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci. )
NEPLATNÁ vydána dne 20.7.2017
Vybrané provedení:
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci. )
NEPLATNÁ vydána dne 27.2.2020
Vybrané provedení:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Storage at high temperature.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 6: Skladování při vysoké teplotě. (Text normy není součástí výtisku). )
NEPLATNÁ vydána dne 10.9.2002
Vybrané provedení:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 7: Měření obsahu vnitřní vlhkosti a analýza dalších zbytkových plynů. (Text normy není součástí výtisku). )
NEPLATNÁ vydána dne 17.9.2002
Vybrané provedení:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Permanence of marking.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 9: Trvanlivost značení. (Text normy není součástí výtisku). )
NEPLATNÁ vydána dne 24.9.2002
Vybrané provedení:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods.
NEPLATNÁ vydána dne 23.9.2002
Vybrané provedení:Methods of sampling and test for sodium hydroxide for industrial use. Determination of mercury content (photometric method).
NEPLATNÁ vydána dne 27.2.1981
Vybrané provedení:Methods of sampling and test for sodium hydroxide for industrial use. Determination of chloride content (photometric method).
NEPLATNÁ vydána dne 27.2.1981
Vybrané provedení:
Industrial platinum resistance thermometer sensors.
(Průmyslové platinové odporové teploměry a platinové teplotní senzory. )
NEPLATNÁ vydána dne 15.3.1996
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 25.04.2024 (Počet položek: 2 896 007)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.