Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BSi - Společnost BSI British Standards je národním standardizačním úřadem Spojeného království (NSB) a jako taková byla i první na světě. Zastupuje ekonomické a společenské zájmy Spojeného království ve všech evropských a mezinárodních standardizačních organizacích i v rámci vývoje řešení podnikových informací pro britské organizace všech velikostí a oborů. Společnost BSI British Standards spolupracuje s výrobním průmyslem a průmyslem služeb, s podniky, s vládami i spotřebiteli tak, aby usnadnila tvorbu britských, evropských i mezinárodních norem. Součást organizace BSI Group, společnost BSI British Standards, úzce spolupracuje s vládou Spojeného královtsví, zejména skrze Oddělení pro inovace, univerzity a dovednosti (DIUS).
Semiconductor devices. Discrete devices. Bipolar transistors.
NEPLATNÁ vydána dne 28.2.2011
Vybrané provedení:Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Field-effect transistors. Additional ratings and characteristics and amds in the measuring methods for power switching field effect transistors..
NEPLATNÁ vydána dne 15.6.2001
Vybrané provedení:Semiconductor devices. Discrete devices. Field-effect transistors.
NEPLATNÁ vydána dne 30.6.2011
Vybrané provedení:Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).
NEPLATNÁ vydána dne 17.1.2003
Vybrané provedení:Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).
NEPLATNÁ vydána dne 30.11.2007
Vybrané provedení:Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits. Family specification. Low voltage integrated circuits.
NEPLATNÁ vydána dne 15.4.2001
Vybrané provedení:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery. (Text normy není součástí výtisku). )
NEPLATNÁ vydána dne 17.9.2002
Vybrané provedení:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 12: Vibrace, proměnlivý kmitočet. (Text normy není součástí výtisku). )
NEPLATNÁ vydána dne 10.9.2002
Vybrané provedení:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 13: Solné ovzduší. (Text normy není součástí výtisku). )
NEPLATNÁ vydána dne 17.9.2002
Vybrané provedení:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )
NEPLATNÁ vydána dne 19.6.2003
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 25.03.2024 (Počet položek: 2 885 931)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.