Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of surface characteristics. Flow coefficient of aggregates.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 6: Posouzení povrchových charakteristik - Tekutost kameniva.)

NEPLATNÁ vydána dne 30.4.2014

Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of fines. Sand equivalent test.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 8: Posouzení jemných částic - Zkouška ekvivalentu písku.)

NEPLATNÁ vydána dne 15.7.1999

Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of fines. Methylene blue test.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 9: Posouzení jemných částic - Zkouška methylenovou modří.)

NEPLATNÁ vydána dne 15.4.1999

Tests for geometrical properties of aggregates. Assessment of fines. Methylene blue test.
(Zkoušení geometrických vlastností kameniva - Část 9: Posouzení jemných částic - Zkouška methylenovou modří.)

NEPLATNÁ vydána dne 30.4.2013

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: low current rectifier diodes (up to 3 ampere rating).

NEPLATNÁ vydána dne 30.9.1969

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: medium current rectifier diodes (1-100 ampere rating).

NEPLATNÁ vydána dne 30.9.1969

Detail specification for medium current rectifier diodes. 3 A, 300 V, 600 V, 900 V, 1200 V, hermetically sealed. Full assessment level.

NEPLATNÁ vydána dne 15.6.1974

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: high current rectifier diodes (greater than 50 ampere rating).

NEPLATNÁ vydána dne 29.5.1970

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: controlled avalanche rectifier diodes.

NEPLATNÁ vydána dne 12.1.1972

Dentistry. Brazing materials.
(Stomatologie - Dentální pájky tvrdé.)

NEPLATNÁ vydána dne 30.11.2006