Specification for vulcanized fibre (natural colour) rods and tubes for electrical purposes.

NEPLATNÁ vydána dne 15.3.1941

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: low current general purpose thyristors (up to 3 ampere rating).

NEPLATNÁ vydána dne 31.5.1973

Optics and optical instruments. Contact lenses. Determination of strains for rigid contact lenses.

NEPLATNÁ vydána dne 15.4.1999

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: medium current general purpose thyristors (1-100 ampere rating).

NEPLATNÁ vydána dne 30.4.1973

Optics and optical instruments. Contact lenses. Determination of inclusions and surface imperfections for rigid contact lenses.

NEPLATNÁ vydána dne 15.9.1998

Optics and optical instruments. Test lenses for calibration of focimeters. Test lenses for focimeters used for measuring spectacle lenses.
(Optika a optické přístroje - Zkušební čočky pro kalibraci fokometrů - Část 1: Zkušební čočky pro fokometry používané pro měření čoček brýlí.)

NEPLATNÁ vydána dne 13.7.2005

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: high current general purpose thyristors (greater than 50 ampere rating).

NEPLATNÁ vydána dne 17.8.1972

Optics and optical instruments. Test lenses for calibration of focimeters.
(Optika a optické přístroje - Zkušební čočky pro kalibraci fokometrů.)

NEPLATNÁ vydána dne 15.12.1996

Rules for the preparation of detail specifications for semiconductor devices of assessed quality: case rated bi-directional triode thyristors (triacs).

NEPLATNÁ vydána dne 1.12.1989

Pliers and nippers. Slip joint pliers. Dimensions and test values.

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2004