Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "BS - Národní - Všechny - strana 8631" dle:    


BS 7501:1989 NEPLATNÁ

General criteria for the operation of testing laboratories.

NEPLATNÁ vydána dne 31.10.1989

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 917.40


SKLADEM
BS QC 750102:1990 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Ambient-rated bipolar transistors for low and high-frequency amplification.

NEPLATNÁ vydána dne 15.2.1990

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 580.30


SKLADEM
BS QC 750103:1990 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Case-rated bipolar transistors for low-frequency amplification.

NEPLATNÁ vydána dne 15.2.1990

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 580.30


SKLADEM
BS QC 750104:1991 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Bipolar transistors for switching applications.

NEPLATNÁ vydána dne 15.11.1991

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 580.30


SKLADEM
BS QC 750107:1991 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Case-rated bipolar transistors for high-frequency amplifications.

NEPLATNÁ vydána dne 15.11.1991

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 580.30


SKLADEM
BS QC 750108:1990 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Rectifier diodes (including avalanche rectifier diodes), ambient and case-rated, up to 100 A.

NEPLATNÁ vydána dne 15.2.1990

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 917.40


SKLADEM
BS QC 750110:1990 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Reverse blocking triode thyristors, ambient and case-rated, up to 100 A.

NEPLATNÁ vydána dne 15.2.1990

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 580.30


SKLADEM
BS QC 750111:1991 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Bidirectional triode thyristors (triacs), ambient or case-rated, up to 100 A.

NEPLATNÁ vydána dne 31.1.1992

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 580.30


SKLADEM
BS QC 750112:1988 NEPLATNÁ

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. Semiconductor devices. Discrete devices. Field-effect transistors. Blank detail specification for single-gate field-effect transistors, up to 5 W and 1 GHz.

NEPLATNÁ vydána dne 15.12.1988

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 580.30


SKLADEM
BS 7502:1989 NEPLATNÁ

General criteria for the assessment of testing laboratories.

NEPLATNÁ vydána dne 31.10.1989

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 917.40


SKLADEM

Zobrazen záznam od 86300 až 86310 z celkem 90576 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.