Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Storage at high temperature.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 6: Skladování při vysoké teplotě. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydána dne 10.9.2002

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 7: Měření obsahu vnitřní vlhkosti a analýza dalších zbytkových plynů. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydána dne 17.9.2002

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Permanence of marking.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 9: Trvanlivost značení. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydána dne 24.9.2002

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods.

NEPLATNÁ vydána dne 23.9.2002

Methods of sampling and test for sodium hydroxide for industrial use. General introduction.

NEPLATNÁ vydána dne 27.2.1981

Methods of sampling and test for sodium hydroxide for industrial use. Determination of mercury content (photometric method).

NEPLATNÁ vydána dne 27.2.1981

Methods of sampling and test for sodium hydroxide for industrial use. Determination of copper content.

NEPLATNÁ vydána dne 27.2.1981

Methods of sampling and test for sodium hydroxide for industrial use. Determination of matter insoluble in water.

NEPLATNÁ vydána dne 27.2.1981

Methods of sampling and test for sodium hydroxide for industrial use. Determination of chloride content (photometric method).

NEPLATNÁ vydána dne 27.2.1981

Industrial platinum resistance thermometer sensors.
(Průmyslové platinové odporové teploměry a platinové teplotní senzory. )

NEPLATNÁ vydána dne 15.3.1996