Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "BS - Národní - Všechny - strana 7948" dle:    


BS IEC 60747-7:2000 NEPLATNÁ

Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Bipolar transistors.

NEPLATNÁ vydána dne 15.6.2001

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
9 514.60


SKLADEM
BS IEC 60747-8:2000 NEPLATNÁ

Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Field-effect transistors. Additional ratings and characteristics and amds in the measuring methods for power switching field effect transistors..

NEPLATNÁ vydána dne 15.6.2001

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
9 514.60


SKLADEM
BS IEC 60747-9:1998 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).

NEPLATNÁ vydána dne 17.1.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
9 514.60


SKLADEM
BS IEC 60747-9:2007 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).

NEPLATNÁ vydána dne 30.11.2007

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 801.60


SKLADEM
BS IEC 60748-2-20:2000 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits. Family specification. Low voltage integrated circuits.

NEPLATNÁ vydána dne 15.4.2001

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 880.80


SKLADEM
BS EN 60749-10:2002 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydána dne 17.9.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 880.80


SKLADEM
BS EN 60749-12:2002 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 12: Vibrace, proměnlivý kmitočet. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydána dne 10.9.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 880.80


SKLADEM
BS EN 60749-13:2002 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 13: Solné ovzduší. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydána dne 17.9.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 880.80


SKLADEM
BS EN 60749-15:2003 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )

NEPLATNÁ vydána dne 19.6.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 880.80


SKLADEM
BS EN 60749-15:2010 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )

NEPLATNÁ vydána dne 30.6.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 880.80


SKLADEM

Zobrazen záznam od 79470 až 79480 z celkem 90060 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.