ASTM - Americké technické normy - strana 8814

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8814

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8814" dle:    


ASTM F979-86(2003) Historická

Standard Test Method for Hermeticity of Hybrid Microcircuit Packages Prior to Lidding (Withdrawn 2009)

NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 534.40


SKLADEM
ASTM F98-72(1977) Historická

Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Withdrawn 1990)

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
ASTM F98-72(1977)e1 Historická

Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1977

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 534.40


SKLADEM
ASTM F98-72(2077)e1 Historická

Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1977

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 534.40


SKLADEM
ASTM F980-10 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 744.60


SKLADEM
ASTM F980-10e1 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices (Includes all amendments And changes 2/2/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 744.60


SKLADEM
ASTM F980-16 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2016

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 744.60


SKLADEM
ASTM F980-92 Historická

Guide for The Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1992

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 744.60


SKLADEM
ASTM F980M-96 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 744.60


SKLADEM
ASTM F980M-96(2003) Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 744.60


SKLADEM

Zobrazen záznam od 88130 až 88140 z celkem 89321 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.