ASTM - Americké technické normy - strana 8736

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8736

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8736" dle:    


ASTM F532-81(1987)e1 Historická

Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1987

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 772.50


do 1 pracovních dnů
ASTM F533-02 Historická

Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 587.00


SKLADEM
ASTM F533-02a Historická

Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 772.50


SKLADEM
ASTM F533-96 Historická

Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 587.00


SKLADEM
ASTM F534-02 Historická

Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 587.00


SKLADEM
ASTM F534-02a Historická

Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 587.00


SKLADEM
ASTM F534-97 Historická

Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 587.00


SKLADEM
ASTM F535-79 Historická

Specification for Electrical Performance Characteristics of Vacuum Cleaners (Withdrawn 1985)

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


do 1 pracovních dnů
ASTM F535-79e1 Historická

Specification for Electrical Performance Characteristics of Vacuum Cleaners (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1979

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 978.70


do 1 pracovních dnů
ASTM F536-98 Historická

Standard Test Method for Size of Resilient Floor Tile by Dial Gage Method (Withdrawn 2004)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 587.00


SKLADEM

Zobrazen záznam od 87350 až 87360 z celkem 90433 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.