ASTM - Americké technické normy - strana 8701

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8701

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8701" dle:    


ASTM F614-80(1991)e1 Historická

Test Method for Distortion of Optical Lenses Used in Photomask Fabrication (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1991

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 535.80


do 1 pracovních dnů
ASTM F615-79(1988) Historická

Practice for Determining Safe Current Pulse Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Withdrawn 1995)

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 746.20


do 1 pracovních dnů
ASTM F615M-95 Historická

Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]

NEPLATNÁ vydána dne 15.5.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 746.20


SKLADEM
ASTM F615M-95(2002) Historická

Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]

NEPLATNÁ vydána dne 15.5.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 746.20


SKLADEM
ASTM F615M-95(2008) Historická

Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric)

NEPLATNÁ vydána dne 15.6.2008

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 746.20


SKLADEM
ASTM F615M-95(2013) Historická

Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric) (Withdrawn 2022)

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2013

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 746.20


do 1 pracovních dnů
ASTM F616-92 Historická

Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1992

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 535.80


do 1 pracovních dnů
ASTM F616M-96 Historická

Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric)

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 535.80


SKLADEM
ASTM F616M-96(2003) Historická

Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric) (Withdrawn 2009)

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 535.80


SKLADEM
ASTM F617-00 Historická

Standard Test Method for Measuring MOSFET Linear Threshold Voltage (Withdrawn 2006)

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 746.20


SKLADEM

Zobrazen záznam od 87000 až 87010 z celkem 89732 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.